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                  德國斯派克臺式偏振X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS

                  2020-2-18 16:29:32

                  儀器簡介

                  德國斯派克分析儀器公司開發出了一種極其成功的技術,把偏振X射線應用于熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種先進的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發展這一技術,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

                  SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件,可獲得極佳的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保最佳激發,12位樣品自動交換器,預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

                  SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應用包,包括:在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

                  XEPOSX射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩定性好,可應對歐洲WEEE、RoHS指令。

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